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XT V160尼康 X-TEK xray檢測(cè)設(shè)備
簡(jiǎn)要描述:尼康 X-TEK xray檢測(cè)設(shè)備 XT V 160系統(tǒng)范圍具有亞微米特征識(shí)別功能,可滿足當(dāng)今對(duì)復(fù)雜電子元件進(jìn)行高性能、無損檢測(cè)的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與平板探測(cè)
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